我們日常生活中，很多（duō）生活物品都經過鍍膜機（jī）鍍（dù）上（shàng）了一（yī）層膜層，讓產品不僅變得更（gèng）美觀，也更（gèng）實用。但是很多人（rén）會有一個疑問，那既然是鍍了一層膜層，薄膜肯定（dìng）是有厚度大小的，那麽（me）薄膜厚度具體多（duō）厚呢，以及怎麽去測量（liàng）？

       薄膜必須沉積（jī）在基底之上， 所以離開了基（jī）片也就無從談薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄（báo）膜的質（zhì）最有（yǒu）極共重要的影響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄（báo）膜的（de）厚度，脫離了薄（báo）膜的厚度來談（tán）薄（báo）膜性質的測最也是亳無意義的。 所（suǒ）以， 膜厚的測量和基片的（de）清洗可以說是和薄膜製作相關的重要技術。一般所謂的厚度是指兩個完（wán）全平整的平行平麵（miàn）之間的距離，這個概念是一個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是指（zhǐ）基片表麵和（hé）薄膜表麵之（zhī）間的距離。在薄（báo）膜形貌的三維度量中，相對於薄（báo）膜的厚度來講，其他兩維的度（dù）量（liàng）可以說是無窮大。由於（yú）實際上存在（zài）的表麵是（shì）不平（píng）整和不連續的，而且（qiě）薄膜的內部還可能存在著氣（qì）孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子（zǐ）等等，所有要嚴格地定義和精（jīng）確地測量薄膜的厚度實際上是很困難的。

        膜厚的定義位當根據測（cè）址的方法和測址的目的（de）決定。 因此，同一個薄膜（mó），使（shǐ）用不同的測量方法會得到不（bú）同的結果， 即不同的厚度。

        在薄膜油測量中的表麵並不是一個幾何的概念（niàn），而（ér）是（shì）一個 物埋概念，是指表麵分子（zǐ）（原子）的集合。 平（píng）均表麵是指表（biǎo）麵原子所有的（de）點到這個麵的距離代數和等（děng）於零， 平均表麵（miàn）是一（yī）個兒何概念。

        我們通常將基片的一側的表麵分子的集合的（de）平（píng）均表麵稱（chēng）為基片表麵；薄膜（mó）上不和基片接（jiē）觸的那（nà）一側的表麵的平均表麵稱為薄（báo）膜（mó）的（de）形狀表麵，將所測量的薄膜原子重新排列，使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且均勻的分布在基片表麵上，這時平均表（biǎo）麵稱為薄膜質量等價（jià）表麵；根據所測量薄膜的物理性質等效為一種長度和寬度與所（suǒ）測量的薄膜一樣的大塊（kuài）固體材料的薄膜，這時的平均表麵稱為薄膜物性等價表麵（miàn）。 形狀膜厚（hòu）是比較接近於直觀形式的膜厚， 通常以µm為單位； 質量膜厚反映了薄膜中包含物質為多少，通常 以 µg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實際使用上較有用， 而且比（bǐ）較容易測量。

         由於實際表（biǎo）麵並不平（píng）整，同時薄膜製作過程中又不可避免地要有各種缺陷、 雜質和吸（xī）附分子等存在，所以不管用哪 一種方法來定義（yì）和（hé）測量膜厚，都（dōu）是一個平均值，而（ér）且足包括了雜質、缺陷以及吸附分（fèn）子在內（nèi）的薄膜的厚度值。

        真空鍍（dù）膜機鍍膜是在真空腔體下進行鍍膜的，對於測（cè）量膜厚度來說，是需（xū）要這方麵專業的測（cè）量儀才能測出厚度大小。

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