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什麽是真空鍍膜技術及方法(fǎ)與分類?

作者: 來源: 日(rì)期:2017-08-17 14:44:38 人氣(qì):5243
    真空鍍膜就(jiù)是置待鍍(dù)材料和被鍍(dù)基(jī)板於真空室內(nèi),采用一定方法加熱待鍍材料,使之蒸發或升華,並(bìng)飛行濺(jiàn)射到被鍍基板表(biǎo)麵凝聚(jù)成膜的工藝。
    在真空條件(jiàn)下成膜有(yǒu)很多優點:可減少蒸發材料的原子、分子在飛向基板過程中於分子的碰撞,減少氣體中的活性分子(zǐ)和蒸發源材料間(jiān)的化學反(fǎn)應(如氧化等),以及減少成膜過程中氣體分(fèn)子(zǐ)進入薄膜中成為雜質的量,從而提供膜層的致密度、純度、沉積速率和與基板的附著力。通常真空蒸鍍(dù)要求成膜室內壓力等於或低於10-2Pa,對於(yú)蒸發源(yuán)與基板(bǎn)距離較遠和薄膜質量要求很高的場(chǎng)合,則要(yào)求壓力更低。
    主要分(fèn)為一下幾類:
    蒸發鍍膜、濺射(shè)鍍膜(mó)和離子鍍(dù)。
    蒸發鍍膜(mó):通過加熱蒸發(fā)某種物(wù)質使其沉積在固體表麵,稱為蒸發鍍(dù)膜。這種方(fāng)法最早由M.法拉第(dì)於1857年提出(chū),現代已成為常用鍍膜技術之一。
    蒸發物(wù)質如金屬、化合物等置於坩堝內或掛(guà)在熱絲上作為蒸發源,待(dài)鍍工件,如金屬、陶瓷、塑料(liào)等基片置(zhì)於坩堝前方。待係統抽至高真空(kōng)後,加熱坩堝使其中的物質蒸發。蒸發物質的原子或分子以冷(lěng)凝方式沉積在基片表麵。薄膜厚度可由數百埃至數微米。膜厚決(jué)定於蒸發源的蒸發速(sù)率和時間(或(huò)決(jué)定於(yú)裝料(liào)量),並與源和基片(piàn)的距離有關。對於大麵積鍍膜,常采用旋轉基片或多蒸發源的方式以保證膜層厚度的均勻性(xìng)。從蒸發源到基(jī)片的距離應小於蒸(zhēng)氣分子在殘餘氣體中的平均自由程,以(yǐ)免蒸氣分子與殘(cán)氣分子碰撞引起(qǐ)化學作用。蒸氣分子平均動能約為0.1~0.2電子伏。
    蒸發源有三種類型。①電阻加熱源:用難熔金屬如鎢、鉭製成舟箔或絲狀,通以電流,加熱在它上方的(de)或置於坩堝中的(de)蒸(zhēng)發物質(zhì)(圖1[蒸發鍍膜設(shè)備示(shì)意圖])電(diàn)阻加熱源主要用於蒸發Cd、Pb、Ag、Al、Cu、Cr、Au、Ni等材料。②高頻感應(yīng)加熱源:用高頻感應電流加熱坩堝和蒸發(fā)物質。③電子束加熱源:適用於蒸發溫度較高(不低於2000[618-1])的材料,即用(yòng)電(diàn)子束轟擊材料使其蒸發。
   蒸發鍍膜(mó)與其他真空鍍膜方法相比(bǐ),具有較高的沉積速率,可鍍製(zhì)單質和不易熱分解的化合物膜。
   為沉積高純單晶膜(mó)層(céng),可采用分子束外延方法。生長摻雜的GaAlAs單晶層的分子束外(wài)延裝置如圖2[ 分子束外延裝(zhuāng)置示意圖]。噴射爐中裝(zhuāng)有分子束源,在超高真空下當(dāng)它(tā)被加熱到一定溫度時,爐中元素以束狀分子流射向基片。基片被加熱到一定溫度(dù),沉積在基(jī)片上的分子可以徙(xǐ)動,按基片晶格次序生長結晶用分子束外延法可獲得(dé)所需化學計(jì)量比的高純化合物單晶膜,薄膜最慢生長速度可控製在1單(dān)層/秒。通過控製擋板,可精確地(dì)做出所需成分和結構的單晶薄膜。分子束外延法廣泛用於製造各種光集成器件和(hé)各種超晶格結構薄(báo)膜。
   濺射鍍(dù)膜:用高能粒子轟擊固(gù)體表麵時能使固體表(biǎo)麵的粒子獲得能量並逸出表麵,沉積在基片上。濺(jiàn)射現象於1870年開始用(yòng)於鍍膜技術,1930年以後由於提高了沉積速率(lǜ)而逐漸用於工業生(shēng)產。常用的二極濺(jiàn)射設備如圖3[ 二極濺射示(shì)意圖]。通常將欲沉積(jī)的材(cái)料製成板材——靶,固定在陰極上。基(jī)片置於(yú)正(zhèng)對靶麵(miàn)的陽極上,距靶幾厘米(mǐ)。係統抽至高真空後充入 10-1帕的氣(qì)體(通常為氬氣),在陰極和陽極間加幾(jǐ)千伏電壓,兩(liǎng)極間即產生輝光放電。放電產生的正離子在(zài)電場作用下飛向陰極,與靶表麵原子(zǐ)碰撞,受碰撞從靶麵逸出的靶原子(zǐ)稱為濺射原子,其能量在1至幾十(shí)電(diàn)子伏範圍。濺(jiàn)射原子在基(jī)片表麵沉積成(chéng)膜。與蒸發鍍膜不同,濺射鍍(dù)膜不受膜材熔點的限製,可濺射W、Ta、C、Mo、WC、TiC等難熔物質。濺射化合物膜可用(yòng)反應濺射法,即將反應氣體 (O、N、HS、CH等)加入(rù)Ar氣中,反應氣體及其離子與靶原子或濺射原子發生反應生成化合物(如氧化物、氮化物等)而沉積在基片上。沉積絕緣膜可采(cǎi)用高頻濺射法。基片裝在接地的電極(jí)上,絕緣靶裝在對麵的電極上。高頻電源一端接地,一端(duān)通過匹配網絡和隔(gé)直流電容接到裝有絕緣靶的電極上。接通高頻電源後,高頻電壓不斷改變(biàn)極性。等(děng)離子體中的電子和正離子在電壓的正半周(zhōu)和負半周分別(bié)打到絕緣靶上。由於電子遷移率高於正離子,絕緣靶表麵帶負電,在達到動(dòng)態(tài)平衡時,靶處於負的偏置電(diàn)位,從而使正離子對靶的濺射持續進(jìn)行。采用磁控濺射(shè)可使沉積速(sù)率比非(fēi)磁控濺射提(tí)高近一(yī)個數量級。
   離子(zǐ)鍍:蒸發物質的分子被電子碰撞電離後以離子沉積在固體表麵,稱為(wéi)離子鍍。這種技術(shù)是D.麥托克斯於1963年提出的。離子鍍是(shì)真空蒸發與陰極濺射(shè)技術的結合。一(yī)種(zhǒng)離子鍍係統如圖4[離子鍍係統示意圖],將基片台作為陰極,外殼作陽極,充入惰性氣體(如氬)以產生輝光放電。從蒸發源蒸發的分子通過等離(lí)子區時發生(shēng)電離(lí)。正離(lí)子被基片台負電壓加速打(dǎ)到基片表麵。未電離(lí)的中性原(yuán)子(約占(zhàn)蒸發料的95%)也沉積在基片或真(zhēn)空室壁表麵。電場對離化的蒸氣分子(zǐ)的加速作(zuò)用(離子能量約幾百~幾千電子(zǐ)伏)和氬離子對基(jī)片的濺射清洗作用,使膜層附著強(qiáng)度大(dà)大提高。離(lí)子鍍工藝綜合了蒸發(高沉積速(sù)率)與濺射(良好的膜(mó)層附著力)工藝的特點,並有很(hěn)好的繞射性,可為形狀複雜的工(gōng)件鍍膜。
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